粉體綜合特性測試儀使用Hausner Ratio豪斯納比和壓縮性指數(shù)來評定粉體的流動性，還可以通過休止角或者安息角數(shù)據(jù)，定質(zhì)量法和定體積法獲得粉體流速數(shù)據(jù)來綜合評定粉體性狀表征特性。由微電腦自動化控制技術(shù)；可以測試粉體、粉體和顆粒之流動性、松裝密度、堆積密度、體積密度和堆密度參數(shù)；當(dāng)測試流動性時，自動開啟控制閥門，自動計時和流完自動停止計時；當(dāng)進行粉體和顆粒密度測試時，無需另購稱重天平，自動稱重并記錄測試數(shù)據(jù)，由液晶顯示并自動計算密度值；自動通過先進的測控技術(shù)，以減少傳統(tǒng)的手工堵塞方式帶來的測試誤差和秒表計時誤差；并配備多規(guī)格可轉(zhuǎn)換漏斗以滿足不同密度測試對漏斗之要求，對粉體性狀分析和產(chǎn)品質(zhì)量管控、配比都有很好的提升從而幫助企業(yè)降低生產(chǎn)成本。定位結(jié)構(gòu)保證測試結(jié)果之準確性。
各種粉體綜合特性測試儀測試方法的優(yōu)勢和不足：
(1) 激光法：優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復(fù)性和準確性好，可實現(xiàn)在線測量和干法測量。缺點：分辨力較低。
(2) 動態(tài)圖像法：優(yōu)點：操作簡便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準確性好，可測量大顆粒，可進行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點：不能分析細顆粒（如 <2μm），儀器成本較高。
(3) 靜態(tài)圖像法：優(yōu)點：成本較低、圖像清晰、可進行圓形度、長徑比等形貌分析。 缺點：操作復(fù)雜，分析速度慢，無法分析細顆粒（如 <2μm）。
(4) 電鏡法：優(yōu)點：能精分析納米顆粒和超細顆粒粒度和形貌，圖像清晰，表面紋理可見，分辨率高，是表征納米顆粒粒度的標準方法。缺點：代表性差、儀器價格昂貴。
(5) 光阻法：優(yōu)點：測試速度快，可測液體或氣體中低濃度顆粒數(shù)，分辨力高，樣品用量少。缺點：進樣系統(tǒng)比較復(fù)雜，不適用粒徑 <1μm 的樣品。
(6) 電阻法：優(yōu)點：操作簡便，可測顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準確性好。缺點：不適合測量超細樣品和寬分布樣品，維護時更換小孔管比較麻煩。
(7) 沉降法：優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運行，價格較低，測試范圍較大。缺點：測試時間較長，操作復(fù)雜。
(8) 篩分法：優(yōu)點：簡單、直觀、設(shè)備造價低，常用于大于38μm（400目）的樣品。缺點：不能用于超細樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
(9) 動態(tài)光散射法：優(yōu)點：測試范圍寬（從納米到亞微米）、測試速度快，重復(fù)性好，操作簡便。缺點：測試寬分布的納米材料誤差較大。
(10) 超聲波法：粉體綜合特性測試儀的優(yōu)點：可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量，無需稀釋樣品。 缺點：分辨率較低，準確性和重復(fù)性較差，結(jié)果受環(huán)境因素影響較大。
